關(guān)于氣壓上升的解釋
基礎(chǔ)理論：克拉珀龍方程
PV=nRT
其中 R= 8314pa.L/mol.K
可推 P=nRT/V
簡化有 P = k*T （k=nR/V） 即
P∝T
以下的討論均基于“將氣體注入完全密閉的腔體或樣品中”的條件進行討論。 對于泄漏樣品，樣品在測試階段的自身泄漏導(dǎo)致的壓損遠(yuǎn)大于氣壓的上升。
在充氣階段，將氣體通過設(shè)備注入腔體或樣品的過程中，氣源帶動氣體對容器壁做功，導(dǎo)致氣體的溫度上升。
溫度上升導(dǎo)致兩個現(xiàn)象：
因為P∝T，溫度上升導(dǎo)致腔體或樣品內(nèi)的氣壓增大，記其導(dǎo)致氣壓上升的影響為P1。溫度上升導(dǎo)致氣體分子的布朗運動更為劇烈。密封性測試儀
氣體百壓強產(chǎn)生的原因是由于氣體分子不斷對容器的器壁碰撞而產(chǎn)生的，而不是由于氣體的重力產(chǎn)生的。所以激烈的布朗運動導(dǎo)致氣體分子對容器壁的壓強增大，壓力上升。記其導(dǎo)致氣壓上升的影響為P2。
在P1和P2的共同影響下，就導(dǎo)致了充氣結(jié)束后，氣壓會有一定幅度的持續(xù)上升?？捎涗洖?/span>
ΔP=f(P1,P2);
有了以上理論基礎(chǔ)，易得，對于一個完全密閉的腔體或樣品進行注氣氣密實驗的時候，在保持階段和測試階段（或保持階段和測試階段中的一段時間）氣體壓力會有一定幅度的持續(xù)上升，持續(xù)到拐點后才會維持氣壓不變會輕微下降。
氣密性測試儀壓損模式的基本原理是監(jiān)控樣品內(nèi)的氣體在測試階段的壓力下降值來判斷樣品是否泄漏。即泄漏值 γ = α - β。當(dāng)β>α 時，泄漏值γ為負(fù)數(shù)。泄漏測試設(shè)備
綜上，對于一個完全不漏的樣品，因為充氣階段的氣體做功和更加劇烈的布朗運動，泄漏值會為負(fù)數(shù)，為正?，F(xiàn)象。
FAQ
我不想見到負(fù)數(shù)，怎么辦？
>>可以等待氣體穩(wěn)定再進行測試：通過增加保持時間，等氣體完全穩(wěn)定再進入測試階段。但是不推薦，原因如下：
//根據(jù)測試壓力、流量、樣品體積大小、樣品的泄漏率等的不同，氣體的穩(wěn)定時間均不 同，從幾秒到幾分鐘不等。為保證測試穩(wěn)定，只能取各類樣品穩(wěn)定時間最大值，這會降低產(chǎn)能。 如果保持時間過長或樣品漏率大，很可能出現(xiàn)氣體還沒穩(wěn)定就已經(jīng)泄漏光了的情況，會造成誤判。氣密檢測設(shè)備
這會影響到測試，造成誤判么？
>>僅氣密性很好的樣品會因為此泄漏值變?yōu)樨?fù)數(shù)，對于泄露樣品，ΔP帶來的增益遠(yuǎn)小于泄漏量，絲毫不影響測試。