氣密性測(cè)試時(shí)測(cè)試結(jié)果顯示負(fù)值原因以及排除方法
測(cè)漏值出現(xiàn)負(fù)值主要可能原因有以下幾個(gè)：
1． 被測(cè)工件比標(biāo)準(zhǔn)工件密封性還要好
氣密性測(cè)試顯示的泄漏率（一般為 CC/min）。直壓法和差壓法的氣密性測(cè)試顯示泄漏率前需要 對(duì)儀器進(jìn)行補(bǔ)償和校準(zhǔn)。也就是接無(wú)泄漏標(biāo)準(zhǔn)工件找系統(tǒng)零點(diǎn)（這個(gè)過(guò)程有的氣密性?xún)x器生產(chǎn)廠家稱(chēng)作系統(tǒng)零點(diǎn)校準(zhǔn)，有的儀器成為系統(tǒng)歸零 (offset）和將固定漏率的漏口接入這個(gè)無(wú)泄漏工件的系統(tǒng)后，測(cè)試結(jié)果和固定漏率的漏口數(shù)值需要對(duì)應(yīng)的參數(shù)值（這個(gè)過(guò)程有的測(cè) 漏儀廠家稱(chēng)為標(biāo)定容積，有的測(cè)漏儀器稱(chēng)為校準(zhǔn)過(guò)程）。
因此氣密性測(cè)試儀生產(chǎn)廠家通常會(huì)要求客戶(hù)提供無(wú)泄漏的標(biāo)準(zhǔn)工件。標(biāo)準(zhǔn)工件很重要，應(yīng)該是選取幾乎不漏氣的工件。測(cè)試前將此工件和管路夾具系統(tǒng)補(bǔ)償為 0 值（即使不漏的工件和管路夾 具系統(tǒng)也肯定有壓力變化，參考下圖中 Non－leak 曲線，可以看出測(cè)試階段總是有點(diǎn)壓力衰減）。
如果測(cè)試過(guò)程中有被測(cè)工件比選定的標(biāo)準(zhǔn)工件還要好（壓力衰減比選定不泄漏標(biāo)準(zhǔn)樣件 還?。?，因?yàn)槲覀冎鞍褵o(wú)泄漏標(biāo)準(zhǔn)工件的泄漏率標(biāo)為 0cc/min，那么這個(gè)被測(cè)工件的泄漏率 就顯示為負(fù)值。
建議:
方博科技(深圳)有限公司推薦盡可能的挑選漏的最小的標(biāo)準(zhǔn)件。
2．周?chē)h(huán)境溫度變化。
周?chē)h(huán)境溫度指：氣密性測(cè)試儀周邊溫度的改變?；蛘呤菧y(cè)試工件本身溫度改變?；蛘呤菤饷苄詼y(cè)試儀到被測(cè)工件管路溫度改變。
溫度的變化影響測(cè)試泄漏率的值。如果測(cè)試工件夾具等條件不變，溫度升高導(dǎo)致了氣體膨脹，膨脹的氣體導(dǎo)致了壓力變化減小，測(cè)試值比原來(lái)值就小，如果被測(cè)工件密封性較好這時(shí)就有可能出現(xiàn)負(fù)值（如上圖 stablization 階段后 pressure decay 階段時(shí)候溫度影響了曲線，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果變化）。
建議：
一天中間早中晚外界可能都會(huì)有較大的溫度變化，方博科技(深圳)有限公司建議,測(cè)試儀器最好先熱機(jī)十分鐘后再做補(bǔ)償校準(zhǔn)，或者在中午時(shí)候做校驗(yàn)。盡量保持氣密性測(cè)試儀和工件溫度與環(huán)境溫度保持一致。密封檢測(cè)儀
3．產(chǎn)品容積的改變。 被測(cè)產(chǎn)品的容積可能會(huì)發(fā)生改變，實(shí)際測(cè)試過(guò)程中我們發(fā)現(xiàn)過(guò)，在測(cè)試產(chǎn)品時(shí)，客戶(hù)誤將產(chǎn)品貼紙遺漏在工裝夾具內(nèi)，導(dǎo)致容積變小。當(dāng)時(shí)測(cè)試值出現(xiàn)了較大的負(fù)值。容積突然改變可能引起測(cè)試結(jié)果變小，出現(xiàn)負(fù)值。
建議：
方博科技(深圳)有限公司建議注意觀測(cè)被測(cè)產(chǎn)品和 master（標(biāo)準(zhǔn)）工 件容積是否等同。
4．夾具以及管路的形變。 夾具以及管路如果有形變可能導(dǎo)致整個(gè)測(cè)試容積變化。也可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)負(fù)值。
比方說(shuō)，在測(cè)試過(guò)程中，工件和管路本身都沒(méi)有泄漏，但是此時(shí)夾具封堵膠皮發(fā)生蠕變，蠕變導(dǎo)致了連接到工件的管路內(nèi)部壓力上升，此時(shí)可能產(chǎn)生負(fù)值。
建議：
方博科技(深圳)有限公司建議更換夾具封堵或者采用硬質(zhì)不容易產(chǎn)生形變的管路。